如果把写坏的盘做一个汇总，可以总结以下几个特点：

1. 基本上都是不出名的小厂的盘，大厂尤其是Intel的盘在压力测试下也没出过问题，Intel的盘不仅耐用，并且掉电丢数据的情况也很少。
2. 新产品更容易坏，比如NVMe刚出来的时候，各种杂牌子的盘很多，坏的也多，但过了一段时间以后，NVMe的稳定性比第一批盘要好。这个规则也适用于SSD，但是因为SSD已经比较成熟了，所以SSD的问题相对于NVMe来说要少一些。
3. 操作系统上层操作很难写坏一个盘，因为盘自身带缓存，解决方法是发送硬件的flush(SYNC)命令，并且不要使用TRIM命令。

早年（大概8年前）SSD刚开始普及的时候，杂牌子的SSD比较多，国外客户更是什么样的盘都有，寄过来一些故障盘，发现在持续烤机一段时间（大概一个月）以后，性能开始下降，文件系统（RTOS上的）性能从200MB/s左右下降到不到100MB/s，这个时候盘已经快要坏了，大版本release测试的时候发现性能有下降，会用不同的盘测一下，如果是某个特定的盘的问题，那么就会把这个盘从测试环境里取出来，不再继续使用。这些盘年代久远，印象不太深刻。

我印象深刻的是两年前我写坏过一个NVMe盘，盘不是我买的，但是因为我们文件系统的性能距离官方数据有一定差距，并且想研究一下TRIM(DISCARD)的影响，我就拿过来研究了一下（顺便说一下，有几个回答里有人提到过这个品牌，这个品牌名声一般）。为了避免硬件缓存的影响，我每次测试之前，会全盘写一遍0x55，再写一遍0xAA，每写一段就发一个SYNC命令，这样能迫使硬件缓存完全失效，并且会完全消耗一次PE次数。写完一遍55/AA之后，再进行后续性能测试（以每次256KB的数据块写2GB的内容）。

这个NVMe盘（PCI-E）裸写的速度大概是700-800MB/s，在我反复擦写0x55/0xAA大概5次左右的时候，盘的写速度突然掉到200MB/s，之后一直就保持在这个速度上了。

基本上可以认为这个盘已经坏了。

评论有人说SSD跟NVMe是一种东西，不应该这么比，我回答里的SSD特指SATA-SSD，二者的主控并不一样，NVMe刚流行的那两年，因为主控问题导致NVMe挂掉的盘很多，第一批NVMe的主控技术并不好。主控对闪存的性能和寿命影响是很大的。

所以，要问固态盘快要坏了的时候是什么现象，那么首先可能遇到的是掉速问题，频繁擦写（尤其是写一轮55/AA）可能会导致固态盘的负载均衡算法失灵；也可能会零碎的丢失一些数据，但考虑到盘本身很大，如果不是像Chia那样P盘的话，未必能发现异常的数据块。

正常使用，尤其是用大厂的盘，一般不会有什么问题，我手头的Intel SSD 730 Series 240GB，是2014年买的，作为系统盘使用至今没有任何问题。但另外一块SanDisk的1T SSD，用了不到4年，已经有好几块坏快了（但还能用）。但是大厂的东西，贵是真的贵，一分钱一分货，十分钱两分货。

写废盘的测试流程（注：绕过文件系统，直接操作驱动）：

1. 申请256KB的固定缓存；
2. 缓存填充0x55，从第一个扇区写到最后一个扇区；
2.1. 每写完1G，发送一次硬件Flush命令（NVMe：Flush Cmd 0x00，SATA：ATA_CMD_FLUSH 0xE7/0xEA）
3. 缓存填充0xAA，从第一个扇区写到最后一个扇区；
3.1. 每写完1G，发送一次硬件Flush命令（同上）
4. 准备1-2GB的内存，按偏移量对0x100求余填充数据
5. 计时，写入数据，计算性能
6. 计时，读取数据，计算性能，校验
7. 发送Flush命令，并重复4-6步骤多次（>5）求平均数